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光頻譜儀在光纖布拉格光柵及光纖傳感器測試上的解決方案光頻譜儀在FBG光纖布拉格光柵及光纖傳感器測試上的應用光纖布拉格光柵（FibreBraggGrating,FBG）因其*的、可靈活編程的濾波性能，與光纖傳輸系統的天然兼容性，以及對環境參數的高度敏感，在光通訊、光纖激光器、窄線寬/單頻激光器、光纖傳感等領域被廣泛使用。隨著光通訊、光纖傳感的快速發展，要求FBG對的光頻譜、偏振等特性以及外界環境有更精細的、可控的響應和敏感度，對FBG本身特性的全面、精確、細致測量尤為重要。在FBG測試領域，先鋒科技提供多種激光頻譜儀用于各種精度...

2020 4-10
深紫外固體脈沖激光器在FBG刻寫方向上的應用介紹在FBG以及其他布拉格光柵刻寫領域，先鋒科技可提供深紫外準分子激光器、深紫外連續激光器、深紫外準連續脈沖激光器以及超快直寫平臺。無論是掩膜干涉刻寫、全息刻寫、深紫外直寫、超快直寫，先鋒科技都可為您提供性能*穩定、使用成本優化的激光器。一、ATLATLEX-FBG準分子激光器ATLEX-FBG為德國ATL公司專門為FBG光柵刻寫而優化的準分子激光器。分布均勻的光斑、良好的相干性、主動穩定性控制，保證了掩膜干涉刻寫的準確性和穩定性；同時，針對準分子激光器的結構和特性，ATLEX-...

2020 4-10
衍射光學元件（DOE）在科學研究方向的應用衍射光學元件（DOE）在科學研究方向的應用衍射光學元件（DOE）本質上是位相調控元件。其產生的特殊波前位相以及在特定像面上的強度分布，在實驗室科研及工業應用開發中均有多方面的用途。高效率、高精度、靈活訂制性能是DOE在這類應用中的顯著特征。STED及超分辨顯微近年來，受激發射耗盡（StimulatedEmissionDepletion,STED）顯微作為一種高速度超分辨顯微技術被廣泛發展。STED采用激發光激發樣品熒光，退激發光照射在特定區域上使得該區域熒光因受激輻射而耗盡，...

2020 4-3
衍射光學元件DOE在結構光照明方向的應用隨著自動駕駛、機器視覺等前沿技術的發展，結構光照明成為這些創新領域的研發和應用的有機組成部分。結構光照明通過將已知光強分布圖樣的光照射到目標或場景上，測量變形（由于樣品表面的幾何構型造成的變性）的返回圖樣，經過計算分析得到目標的距離、表面形貌、運動及其他參數。DOE可以構建非常復雜的訂制光強圖樣，這些圖樣的形狀，紋路，角度等都可以根據用戶的應用靈活編程。激光雷達激光雷達（LaserDetectionａndRanging,LIDAR）是利用激光測量距離等參數的技術。常規的激光雷...

2020 4-3
衍射光學元件在激光加工與材料處理方向上的應用平頂光束整形器在激光加工與材料處理方向上的應用激光加工與材料處理無疑是激光器大的應用領域之一。近年來在傳統的切割、焊接、打標的基礎上，越來越多的新激光加工處理工藝被開發出來并迅速在業界推廣。不同種類的工藝使用各種波長、強度、脈沖寬度的激光，也對光斑形貌、分布、景深等提出豐富的要求。DOE在針對特定激光加工處理應用的光斑優化中扮演核心角色。通常采用DOE可以從兩方面優化激光加工處理的效果：倍增處理速率和產率；提升處理精度，如邊緣整齊度、熱影響區域、處理效率等。熔蝕與構造激光熔蝕...

2020 4-2
激光衍射元件DOE在激光醫美行業的應用激光衍射元件DOE在激光醫美行業的應用激光正在成為醫療美容中越來越流行的工具，而在激光醫美設備中，對作用光斑的控制非常重要。通過衍射光學元件（DOE）可以各種方式操縱光束，同時重量輕、結構緊湊、使用簡便，具備*的優勢。l皮膚祛斑與修復皮膚修復包括廣泛的涵義，旨在修復皮膚受日曬、疤痕、痤瘡等影響造成的外觀損傷。事實證明，與較小的激光束相比，具備2D矩陣結構的激光分布可以覆蓋更寬的皮膚區域，減少操作時間；同時激光以均勻的方式影響皮膚，斑點之間的非作用區域為表皮干細胞恢復皮膚活力提...

2020 3-31
全面了解衍射光學元件DOE分類和選型衍射光學元件DOE分類和選型匯總一、衍射光學元件簡介衍射光學元件（DiffractiveOpticalElement，DOE）是近幾年蓬勃發展的新興光學元件。DOE通常采用微納刻蝕工藝構成二維分布的衍射單元，每個衍射單元可以有特定的形貌、折射率等，對激光波前位相分布進行精細調控。激光經過每個衍射單元后發生衍射，并在一定距離（通常為無窮遠或透鏡焦平面）處產生干涉，形成特定的光強分布。圖1：衍射光學元件的A)使用示意；B)外形示意；C)表面微觀結構示意衍射光學元件問世后在高功率激...

2020 3-30
棱鏡耦合測試儀的核心優勢及產品特點棱鏡耦合測試儀采用棱鏡耦合方法測試樣品折射率，可測試波長633nm、935nm、1549nm處的折射率值，通過軟件做曲線耦合科求出任何波段的模擬值。測試儀提高了用戶友好的控制程序，和新測量的功能，允許測量從常見到特殊的薄膜而不需依靠內部系數或菜單式校準曲線，不必預先知曉厚度及折射率，±.0005常規折射率分辨率-尤其在大批量生產時比其他技術更具優勢（可獲得更高折射率），通用化-沒有固定的薄膜/基底合并菜單，可測量雙膜結構中的單膜厚度及折射率，體材料或基底材料的高...

2020 3-24

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