波前分析儀的技術革命

 波前分析儀是自適應光學系統zui重要的組成部件之一，決定了自適應光學系統zui終的調制結果。同時波前探測器在激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統的波前像差檢測，虹膜定位像差引導，大口徑高精度光學元器件檢測，平行光管/望遠鏡系統的檢測與裝調，紅外、近紅外探測，激光光束性能、波前像差、M^2、強度的檢測，高精密光學元器件表面質量的檢測等領域發揮著越來越重要的作用。美國LUMETRICS公司自主研發的CLAS-2DTM系列波前分析儀（CLAS-2D™ , CLAS-XP™, CLAS-HP™, CLAS- NearIR-320™, CLAS-NearIR-640™）能夠快速、簡單、準確的測量激光光束的波前相位參數，例如波前傾斜，峰谷誤差，均方根波前誤差，像散，球差，聚焦誤差/準直。

四波剪切干涉技術原理：

　　剪切干涉技術基本原理是將待檢測的激光波前分成兩束，其中的一束相對于另一束橫向產生一些錯位，兩束錯位的光波各自保持完整的待測波前信息，相互疊合后，產生干涉現象，CCD/CMOS相機會接收干涉圖樣，進行相應的計算分析，從而利用傅立葉變換的相關計算，分析出待測波前的相位分布，以及強度分布等。基于干涉條紋的疏密度敏感于波前的斜率，因此波前傳感器在探測波前的偏離范圍較傳統的哈特曼傳感器具有更大的*性。

      LUMETRICS公司的波前分析儀是集四波橫向剪切干涉儀，光束質量分析儀，自準直儀和四象限探測器為一體的快速、緊湊型波前分析儀器。運用*的算法能夠測量三個波段的波前參數：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。

波前傳感器的典型應用

　　光在傳輸的過程中會經過不同的介質，不同的介質由于其構成物質的分布不均勻，從而導致光的波前產生各種各樣的變化，自適應系統便應運而生。作為自適應系統中重要的一環，波前傳感器的檢測精度，動態范圍等等因素，都制約著自適應系統zui終的調制結果。由于剪切干涉波前分析儀具有分辨率高，探測精度高，探測速度快，操作簡便，可直接的三維顯示波前畸變的模式等優點，目前已經得到了廣泛的使用。

波前分析儀特點：

      CLAS-2DTM系列波前分析儀具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等*的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！LUMETRICS波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。

應用范圍：

Ø 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統波前像差檢測

Ø 激光光束性能、波前像差、M2、強度等的檢測

Ø  紅外、近紅外探測

Ø 平行光管/望遠鏡系統的檢測與裝調

Ø 衛星遙感成像、生物成像、熱成像領域

Ø  球面、非球面光學元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)

Ø  虹膜定位像差引導

Ø 大口徑高精度光學元器件檢測

Ø  激光通信領域

Ø  航空航天領域

      另外, 美國LUMETRICS波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發實力，能為客戶提供的各種自適應光學系統OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個性化解決方案。可根據客戶的應用需求，為客戶推薦zui合適的波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統操作軟件等。

      先鋒科技創建于1995年，是國內的光電產品代理商，代理美國LUMETRICS生產的波前分析儀，我們每年定期安排技術服務工程師去國外參加技術培訓，并購買相應的零配件，力爭做到絕大部分的主流產品可以做到本地化維修，免除由于返回國外造成的時間及物質上的損失。我們將以全體用戶的利益為重，盡我們zui大的努力，為各個領域內的用戶提供的服務。衷心希望得到您們一如既往的支持！