棱鏡耦合測試儀極大地提高了用戶友好的控制程序

　　棱鏡耦合測試儀利用波導耦合原理，測量薄膜或體材料的折射率、薄膜厚度，熱光系數(shù)以及波導損耗等。對電介質及聚合物膜的膜厚和折射率 / 雙折射進行快速及準確的測量。
 

　　測試原理：
 

　　是待測樣品通過一個空氣作用的耦合探頭與棱鏡基座接觸,在薄膜與棱鏡之間產(chǎn)生一個空氣狹縫。根據(jù)查詢相關資料顯示：棱鏡耦合測試儀采用棱鏡耦合方法測試樣品折射率，可測試波長633nm、935nm、1549nm處的折射率值，通過軟件做曲線耦合科求出任何波段的模擬值。
 

　　主要特點：
 

　　1、中 / 厚膜膜厚及折射率 ( 尤其是光波導 )測量的選擇。
 

　　2、不需要預先知道膜的厚度。
 

　　3、*的氣壓耦合方式 , 不需要加耦合液。
 

　　性能優(yōu)勢：
 

　　1、極大地提高了用戶友好的控制程序 和新測量的功能，允許測量從常見到特殊的薄膜而不需依靠內部系數(shù)或菜單式校準曲線。
 

　　2、不必預先知曉厚度及折射率；
 

　　3、±0.0005 常規(guī)折射率分辨率 - 尤其在大批量生產(chǎn)時比其他技術更具優(yōu)勢(可獲得更高折射率)；
 

　　4、通用化 - 沒有固定的薄膜 / 基底合并菜單；
 

　　5、可測量雙膜結構中的單膜厚度及折射率；
 

　　6、可進行體材料或基底材料的高折射率測量；
 

　　7、快速測量薄膜或漫反射光波導參數(shù)(20s)。