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    基于四波橫向剪切干涉法的超表面光學(xué)表征

    更新更新時間:2023-07-24 點(diǎn)擊次數(shù):978

    自從J. B. Pentry教授在1996年開始提出超材料結(jié)構(gòu)的負(fù)折射原理,Roger M. Walser教授1999年正式提出了超材料metamaterial的名詞。現(xiàn)如今,超材料已經(jīng)從最初材料性研究,慢慢的過度到器件方向,而由于微納工藝的發(fā)展,亞微米乃至納米級周期性結(jié)構(gòu)得以實(shí)現(xiàn),超材料在可見光和近中紅外等區(qū)域的研究近年來也逐漸增多,由此衍生的超表面、超透鏡等也變成了光學(xué)前沿和技術(shù)熱點(diǎn),甚至于被譽(yù)為光學(xué)領(lǐng)域新的革命性技術(shù)。

    原理知識

    超表面是由大量亞波長單元在二維平面上周期或非周期排布而構(gòu)成的人工結(jié)構(gòu)陣列,能夠?qū)﹄姶挪ㄟM(jìn)行靈活操控。由于超表面具有超薄結(jié)構(gòu)和較強(qiáng)的可自主設(shè)計(jì)性而受到廣大研究者青睞。超透鏡是一種二維平面透鏡結(jié)構(gòu),其體積極小,重量輕,易于集成,可實(shí)現(xiàn)對入射光振幅、相位、偏振等參量的靈活調(diào)控,在超分辨顯微成像、全息光學(xué)、消色差透鏡等方面有重要應(yīng)用。

    業(yè)內(nèi)痛點(diǎn)

    超表面的目前發(fā)展主要局限于光學(xué)設(shè)計(jì)能力,在宏觀基底材料上的制造數(shù)十億納米級結(jié)構(gòu)的非均勻組裝的能力以及加工成型后測量能力。對于成型后的測量學(xué)術(shù)主要使用以下幾種方法:第一橢偏法,該方法應(yīng)用面較窄,僅適用于基于正交光偏振之間的相位差測量;第二干涉測量法通常是基于兩束光(其中一束用作參考)交匯在檢測平面上進(jìn)行干涉。但是該方法對實(shí)驗(yàn)環(huán)境要求高,抗震能力低,導(dǎo)致靈敏度差,而且對機(jī)械結(jié)構(gòu)要求很嚴(yán)格,不易于實(shí)施。業(yè)界有提出三干涉的方法其中第三束用于分析實(shí)驗(yàn)期間的環(huán)境變化,但是這樣會使設(shè)備結(jié)構(gòu)更為復(fù)雜。第三 掃描近場光學(xué)顯微鏡法,該方法提供接近衍射極限的分辨率,并允許對任意復(fù)雜納米顆粒陣列的近場相位響應(yīng)進(jìn)行成像,但是這種方法是一種侵入式測量方法,而且太依賴于納米探針針尖的性能。第四間接測量方法,如針對超透鏡的偏振轉(zhuǎn)換效率的測量等方法。上述的幾種方法均為部分表征或間接測量,那么有沒有一種更有效的能直接的測量手段呢?今天借著本文,和大家介紹一下Phasics公司的基于四波橫向剪切干涉技術(shù)的波前傳感器在超表面方面的測量方案。

    測量原理

    四波橫向剪切干涉方案一般采用二維光柵作為分光器件,利用二維光柵將待測波前分為四束,并使它們發(fā)生橫向剪切干涉,此時得到的單幅載頻干涉圖種包含兩正交方向的差分波前信息,通過特定的分析和定量計(jì)算梳理(反傅里葉變換)的波前重構(gòu),可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)波前檢測。四波剪切式波前傳感器的硬件一般由兩個簡單的元件組成:一個普通的相機(jī)和一個二維衍射光柵

    方案介紹

    通常,在檢測超表面或者超透鏡時,我們會使用上圖的架構(gòu),構(gòu)成顯微成像方案。該方案里,光源照明部分由激光驅(qū)動白光光源(通常建議選用由我司代理的Energetiq Technologies公司的EQ-99X系列產(chǎn)品加單色儀),當(dāng)然也可以選用非相干光源。顯微物鏡的倍數(shù)和焦距可根據(jù)待測樣品靈活選定,波前的表征由法國Phasics公司的波前傳感器SID4系列產(chǎn)品完成。該產(chǎn)品可以覆蓋從紫外到中遠(yuǎn)紅外波段的測試要求。SID4系列波前傳感器可以直接和業(yè)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡對接,無需中轉(zhuǎn)器件。測量時,通過樣品的光在SID4系列波前傳感器上被顯微鏡成像,再通過軟件分析干涉圖像,即可得出波前相位畸變。每次測量時都需要在拍攝待測物體的圖像之前,獲取參考圖像,然后從目標(biāo)圖像中減去參考圖像以補(bǔ)償入射光束的本身缺陷引入的誤差。

    針對大尺寸結(jié)構(gòu)的超透鏡,則可以直接通過單通的方法進(jìn)行測量,如下圖:

    測量結(jié)果

     超透鏡光學(xué)函數(shù)測量結(jié)果

        超透鏡PSFMTF測試結(jié)果

    超表面測量結(jié)果


    本文相關(guān)設(shè)備

    wps7.jpg

    SID4波前傳感器-法國Phasics                        EQ99超連續(xù)光源-美國Energetiq

    TLS可調(diào)單色光源-中國Zolix

    作者:楊振 先鋒科技股份有限公司成都辦公室 銷售經(jīng)理


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