簡要描述：Phasics Kaleo IR 紅外光學計量機臺讓紅外光學元件測試變得非常簡便?？赏ㄟ^單次測量迅速獲得紅外的MTF，而無需掃描或繁冗的準直工作；在測量的同時可獲取所有的波前畸變。同時Kaleo IR還是一臺在NIR，SWIR，MWIR以及LWIR波段的高性價比紅外干涉儀，用于測試光學元件面形。

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